行業(yè)應(yīng)用
LED顆粒缺陷檢測(cè)
發(fā)布時(shí)間：
2021-05-10 15:21
來(lái)源：
LED顆粒缺陷檢測(cè)
采用大圖智能DT-X視覺(jué)系統(tǒng)定制的LED缺陷檢測(cè)專用工具進(jìn)行檢測(cè)，可以穩(wěn)定快速的檢測(cè)白色LED支架、黑色LED支架存在顆粒缺陷的行、列號(hào)。
切刀機(jī)構(gòu)根據(jù)行、列號(hào)將存在缺陷的顆粒進(jìn)行切除。
OK圖樣
缺陷圖樣
檢測(cè)效果：
誤判率：＜0.01%
檢測(cè)時(shí)間：＜300ms
檢測(cè)視野：80mm X 60mm
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